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CINDBEST CT-6|6

CINDBEST CT-6|6"~12" 非真空高低溫探針臺測試系統(tǒng)

◆ 最大可用于 12 英寸以內(nèi)樣品測試

◆ 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正

壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜

◆ 優(yōu)化的腔體保溫結(jié)構(gòu)可以極大的減少液氮消耗量

◆ 可升降調(diào)節(jié)適合加裝探針卡

◆ 可搭配多種類型顯微鏡

◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設計，可無縫升級

◆ 探針臺可根據(jù)客戶要求定制。


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◆ 最大可用于 12 英寸以內(nèi)樣品測試

◆ 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正

壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜

◆ 優(yōu)化的腔體保溫結(jié)構(gòu)可以極大的減少液氮消耗量

◆ 可升降調(diào)節(jié)適合加裝探針卡

◆ 可搭配多種類型顯微鏡

◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設計，可無縫升級

◆ 探針臺可根據(jù)客戶要求定制。